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  <blog_title>Electronics Pick-up by Akira Fukuda</blog_title>
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    <anon>筆者の仕事</anon>
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  <description>EETimes Japan誌で連載しておりますコラム「デバイス通信」。今週2回めの更新です。7nm時代のCPU設計の続きです。 「ARMから見た7nm CMOS時代のCPU設計（13）〜高移動度FinFETの期待と現実」 http://eetimes.jp/ee/articles/1505/20/news032.html 7nm時代になるとコンタクト抵抗や配線抵抗、配線容量などがロジック集積回路（LSI）の性能を支配するようになります。トランジスタの性能が上がったとしても、抵抗増分と容量増分が大きくて全体の性能を押し下げてしまう。この厳しい現実を紹介しております。 お手すきのときにでも、眺めて…</description>
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  <published>2015-05-21 23:10:03</published>
  <title>コラム「デバイス通信」を更新しました「7nm時代の高移動度FETが直面する現実」</title>
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