<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<oembed>
  <author_name>aglassofwater</author_name>
  <author_url>https://blog.hatena.ne.jp/aglassofwater/</author_url>
  <blog_title>コップ水の日記</blog_title>
  <blog_url>https://aglassofwater.hatenadiary.org/</blog_url>
  <categories>
    <anon>科学と技術</anon>
  </categories>
  <description>NECが32ナノのLSI多層配線を試作--45ナノノード比で漏れ電流3桁減 - CNET Japan http://japan.cnet.com/news/ent/story/0,2000056022,20338494,00.htm?ref=rss NECとNECエレクトロニクスは12月12日、32ナノメートル製造プロセスルールでLSI多層配線を試作し、基本性能を検証できたと発表した。新開発の低誘電率（Low-k）層間絶縁膜を適用することで、優れた性能と耐久性を実現したとしている。 LSIを微細化すると配線の間隔が狭まるため、信号遅延の原因となる配線寄生容量が増大する。寄生容量を抑えられるポー…</description>
  <height>190</height>
  <html>&lt;iframe src=&quot;https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Faglassofwater.hatenadiary.org%2Fentry%2F20061213%2Fp3&quot; title=&quot;微小領域での熱計測が流行っているのは、ここらへんと関係あるのだろう。 - コップ水の日記&quot; class=&quot;embed-card embed-blogcard&quot; scrolling=&quot;no&quot; frameborder=&quot;0&quot; style=&quot;display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;&quot;&gt;&lt;/iframe&gt;</html>
  <image_url></image_url>
  <provider_name>Hatena Blog</provider_name>
  <provider_url>https://hatena.blog</provider_url>
  <published>2006-12-13 00:00:01</published>
  <title>微小領域での熱計測が流行っているのは、ここらへんと関係あるのだろう。</title>
  <type>rich</type>
  <url>https://aglassofwater.hatenadiary.org/entry/20061213/p3</url>
  <version>1.0</version>
  <width>100%</width>
</oembed>
