beetech https://blog.hatena.ne.jp/beetech/ beetechの日記 https://beetech.hatenadiary.org/ 国産で初めて量産化に成功したロームのSiC SBD、SCS110AGについての特性評価及びデバイスモデリングを行います。SiCのショットキバリアダイオードのデバイスモデリングには、順方向特性 逆方向特性 容量特性 逆回復特性（この特性が存在する場合、通常はTT=0です）上記の特性図、波形データが必要になります。今回は常温での逆回復特性を測定致しました。測定方法は、IFIR法 です。測定条件は下記のようにしました。IF=0.2A IR=0.2A RL=50 ohmです。上記の写真が逆回復特性の波形になります。trr=28nsecです。trrの内訳は、trr=trj+trb=12n+16nです。S… 190 <iframe src="https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Fbeetech.hatenadiary.org%2Fentry%2F20101014%2F1287042228" title="SiC SBDの逆回復特性(ローム：SCS110AG)の実験 - beetechの日記" class="embed-card embed-blogcard" scrolling="no" frameborder="0" style="display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;"></iframe> http://3.bp.blogspot.com/_z3N2MzHu684/TLavSKaml5I/AAAAAAAABjo/IswUuuszSps/s400/SCS110AG.GIF Hatena Blog https://hatena.blog 2010-10-14 16:43:48 rich https://beetech.hatenadiary.org/entry/20101014/1287042228 1.0 100%