<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<oembed>
  <author_name>chamotarooo</author_name>
  <author_url>https://blog.hatena.ne.jp/chamotarooo/</author_url>
  <blog_title>chamotaroooのブログ</blog_title>
  <blog_url>https://chamotaro.hatenablog.com/</blog_url>
  <categories>
    <anon>応用情報技術者試験</anon>
    <anon>システム開発技術</anon>
  </categories>
  <description>応用情報技術者試験の科目Aでは、ソフトウェアユニットのテスト技法として、ホワイトボックステストの網羅基準とブラックボックステストのテストデータ設計が問われます。この記事では、命令網羅・判定条件網羅・条件網羅・複数条件網羅を満たす最少のテストケース数の求め方と、同値分割・限界値分析・原因結果グラフによるテストデータの作り方を、自作の数値例で確かめます。ミューテーションテストの評価の仕方も扱います。 論点解説 テストは「どこまで確かめたか」を説明できないと、いつ終えてよいか決められません。テスト技法は、この「どこまで」を測る物差しです。プログラムの内部構造を見て通った箇所を数えるのがホワイトボック…</description>
  <height>190</height>
  <html>&lt;iframe src=&quot;https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Fchamotaro.hatenablog.com%2Fentry%2Fouyou%2Ft071-test-techniques&quot; title=&quot;テスト技法の網羅基準と限界値分析【応用情報技術者試験 システム開発技術】 - chamotaroooのブログ&quot; class=&quot;embed-card embed-blogcard&quot; scrolling=&quot;no&quot; frameborder=&quot;0&quot; style=&quot;display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;&quot;&gt;&lt;/iframe&gt;</html>
  <image_url>https://cdn-ak.f.st-hatena.com/images/fotolife/c/chamotarooo/20261001/20261001093333.png</image_url>
  <provider_name>Hatena Blog</provider_name>
  <provider_url>https://hatena.blog</provider_url>
  <published>2026-10-01 09:33:42</published>
  <title>テスト技法の網羅基準と限界値分析【応用情報技術者試験 システム開発技術】</title>
  <type>rich</type>
  <url>https://chamotaro.hatenablog.com/entry/ouyou/t071-test-techniques</url>
  <version>1.0</version>
  <width>100%</width>
</oembed>
