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  <author_name>iDES</author_name>
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  <blog_title>井出草平の研究ノート</blog_title>
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    <anon>R</anon>
    <anon>回帰分析</anon>
    <anon>計量</anon>
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  <description>rpubs.com Kazuki Yoshidaさんによって作成されたものらしい。 farawayパッケージに含まれる半導体ウェハのデータを用いる。 library(faraway) data(wafer) plot(density(wafer$resist)) 結果は連続的なものだが、右に傾いており、常に正の値を示している。このようなデータを分析する最も一般的な方法は、結果を対数変換することである。しかし、一般化線形モデルの枠組みの中で、より良い代替手段がある。 &quot;resitivity of wafer in semiconductor experiment&quot; Description: A …</description>
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  <published>2021-07-01 22:53:04</published>
  <title>ガンマ分布のglm()モデリング[R]</title>
  <type>rich</type>
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