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  <author_name>KARMA-EDA</author_name>
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  <blog_title>EDA弐号機発進！</blog_title>
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    <anon>EDA関連ニュース</anon>
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  <description>2007年10月23日、ケイデンスは、米IBM、川崎マイクロ、米LSIにおけるテスト設計ツール「Encounter Test」の成功事例を発表した。プレスリリース： http://www.cadence.co.jp/news/H19-10-24.html（川崎マイクロ、LSI関連） http://www.cadence.co.jp/news/h19-10-24-2.html（IBM関連）ケイデンスによると、IBMは「Encounter Test」を利用し従来のテスト手法では検出することが出来なかった微小遅延故障の検出・修正を実現。デバイスのスピードを加速し、微小なタイミングの遅延を見つけ出す手…</description>
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  <published>2007-10-24 07:01:47</published>
  <title>ケイデンス、テスト設計ツール「Encounter Test」の成功事例を3件発表〜米IBM、川崎マイクロ、米LSI</title>
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