<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<oembed>
  <author_name>pcm1723</author_name>
  <author_url>https://blog.hatena.ne.jp/pcm1723/</author_url>
  <blog_title>シンセ・アンプラグド</blog_title>
  <blog_url>https://pcm1723.hateblo.jp/</blog_url>
  <categories>
    <anon>VCF</anon>
    <anon>V3320</anon>
    <anon>Arduino</anon>
  </categories>
  <description>CV 漏れ補正状態の測定の最後は、4 次 LPF などで全ステージが直結される構成、つまり、 (ステージ 1) → (ステージ 2) → (ステージ 3) → (ステージ 4) となる場合の測定です。</description>
  <height>190</height>
  <html>&lt;iframe src=&quot;https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Fpcm1723.hateblo.jp%2Fentry%2F2021%2F05%2F05%2F150540&quot; title=&quot;4 次 VCF CEM3320/V3320 (24) --- CV 漏れ補正 (3) - シンセ・アンプラグド&quot; class=&quot;embed-card embed-blogcard&quot; scrolling=&quot;no&quot; frameborder=&quot;0&quot; style=&quot;display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;&quot;&gt;&lt;/iframe&gt;</html>
  <image_url></image_url>
  <provider_name>Hatena Blog</provider_name>
  <provider_url>https://hatena.blog</provider_url>
  <published>2021-05-05 15:05:40</published>
  <title>4 次 VCF CEM3320/V3320 (24) --- CV 漏れ補正 (3)</title>
  <type>rich</type>
  <url>https://pcm1723.hateblo.jp/entry/2021/05/05/150540</url>
  <version>1.0</version>
  <width>100%</width>
</oembed>
