tomonari0423 https://blog.hatena.ne.jp/tomonari0423/ 技術者・研究者向けセミナー https://tomonari0423.hatenadiary.org/ 光干渉法を用いた微細三次元計測技術。フアインパターン化、光学部材の微細化に伴い一段と重要になってきている三次元計測のノウハウを修得し、製品開発へ活かそう！微細三次元計測技術とその応用およびノウハウ 〜デモ付〜共催：Ｒ＆Ｄ支援センター日時：2011年6月9日（木） 10：30〜17：30≪講座のポイント≫ 半導体やフラットパネルディスプレイのファインパターン化、光学部材の微細化、MEMSやナノインプリント技術の進歩などを背景に、マイクロメータからナノメータのオーダーの微細三次元形状測定は、ますます重要になってきています。 本講座では、各種の微細三次元表面形状測定法を比較したのち、光干渉法による表… 190 <iframe src="https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Ftomonari0423.hatenadiary.org%2Fentry%2F20110420%2F1303258773" title="微細三次元計測技術とその応用およびノウハウ - 技術者・研究者向けセミナー" class="embed-card embed-blogcard" scrolling="no" frameborder="0" style="display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;"></iframe> Hatena Blog https://hatena.blog 2011-04-20 09:19:33 rich https://tomonari0423.hatenadiary.org/entry/20110420/1303258773 1.0 100%