<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<oembed>
  <author_name>tomonari0423</author_name>
  <author_url>https://blog.hatena.ne.jp/tomonari0423/</author_url>
  <blog_title>技術者・研究者向けセミナー</blog_title>
  <blog_url>https://tomonari0423.hatenadiary.org/</blog_url>
  <categories>
  </categories>
  <description>前処理によって得られるスペクトルがどのように変わるのかなど、実例を用いて説明するとともに、得られたデータに対するスペクトル検索のコツおよびスペクトルの読み方についてご紹介！FT-IRによる不良解析・異物分析実例 〜測定の注意点とスペクトル解析のコツ〜主催：Ｒ＆Ｄ支援センター日時：2011年10月6日（木） 10：30〜16：30[講座のポイント] FT-IRを用いた不良解析・異物分析においてサンプリングなどの前処理は非常に重要であり、これを失敗すると、その後の解析を困難にしてしまう場合があります。また、試料の種類や状態により、正確な情報を得られなかったり、間違った分析結果を導いてしまう場合もあ…</description>
  <height>190</height>
  <html>&lt;iframe src=&quot;https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Ftomonari0423.hatenadiary.org%2Fentry%2F20110710%2F1310299241&quot; title=&quot;FT-IRによる不良解析・異物分析実例【大阪開催】 - 技術者・研究者向けセミナー&quot; class=&quot;embed-card embed-blogcard&quot; scrolling=&quot;no&quot; frameborder=&quot;0&quot; style=&quot;display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;&quot;&gt;&lt;/iframe&gt;</html>
  <image_url></image_url>
  <provider_name>Hatena Blog</provider_name>
  <provider_url>https://hatena.blog</provider_url>
  <published>2011-07-10 21:00:41</published>
  <title>FT-IRによる不良解析・異物分析実例【大阪開催】</title>
  <type>rich</type>
  <url>https://tomonari0423.hatenadiary.org/entry/20110710/1310299241</url>
  <version>1.0</version>
  <width>100%</width>
</oembed>
