yamamine https://blog.hatena.ne.jp/yamamine/ yamamine’s diary https://yamamine.hateblo.jp/ 捨て置けないニュース 『ランダム分布埋め込み手法で測定時間を「短縮」できる 現在は、時系列データを計測するよりも、一度に多種多数のデータを同時計測する方が容易な場合もある。例えば、IoT（Internet of Things）といった計測技術の進歩により比較的容易に、例えば2万以上の遺伝子からなる人のゲノムについて、得られたサンプルからそれぞれの遺伝子の発現量を計測可能だ。 合原氏らは、ある時刻の多数の観測変数についてその値からランダムに変数を選んでその時点でのアトラクターの状態を推定する「ランダム分布埋め込み（Randomly Distributed Embedding：RDE）」手法を考案した。』 とあるがアト… 190 <iframe src="https://hatenablog-parts.com/embed?url=https%3A%2F%2Fyamamine.hateblo.jp%2Fentry%2F2018%2F10%2F11%2F191544" title="東京大学生産技術研究所 - yamamine’s diary" class="embed-card embed-blogcard" scrolling="no" frameborder="0" style="display: block; width: 100%; height: 190px; max-width: 500px; margin: 10px 0px;"></iframe> https://cdn-ak.f.st-hatena.com/images/fotolife/y/yamamine/20251007/20251007210612.jpg Hatena Blog https://hatena.blog 2018-10-11 19:15:44 rich https://yamamine.hateblo.jp/entry/2018/10/11/191544 1.0 100%